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菲希爾 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 是一款入門(mén)級(jí)經(jīng)濟(jì)型 X 射線熒光測(cè)厚儀，專(zhuān)為珠寶、錢(qián)幣和貴金屬的無(wú)損成分分析與鍍層厚度測(cè)量設(shè)計(jì)，具備高性?xún)r(jià)比、操作簡(jiǎn)便、精度可靠的特點(diǎn)，符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER XAN215核心功能與測(cè)量能力

1. 分析能力

成分分析：可分析金、銀、鉑、鈀、銠等貴金屬及其合金，包括黃 / 白金、K 金等

鍍層測(cè)厚：適用于單層 / 多層鍍層系統(tǒng)，如金鍍層、銠鍍層等厚度測(cè)量

基礎(chǔ)參數(shù)法：無(wú)需校準(zhǔn)即可分析固體、液體樣品及鍍層系統(tǒng)，提高測(cè)量靈活性

2. 操作與軟件系統(tǒng)

控制軟件：標(biāo)配 WinFTM® BASIC 軟件，可選 WinFTM® SUPER 高級(jí)版

數(shù)據(jù)處理：PC 端操作，支持?jǐn)?shù)據(jù)管理、報(bào)告生成、結(jié)果可視化

用戶(hù)交互：直觀界面，簡(jiǎn)化測(cè)量流程，減少培訓(xùn)成本